雙折射測量?jì)xPA-Micro

主要特點(diǎn)：操作簡(jiǎn)單，測量速度可以快到3秒。視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。更直觀(guān)的一體讀取數據，無(wú)遺漏數據點(diǎn)。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡(jiǎn)單，不含旋轉光學(xué)濾片的機構。高達2056x2464像素的偏振相機。應用領(lǐng)域：通信光纖晶體醫學(xué)技術(shù)參數：? ??項次? ? ? ? ? ?項目? ? ? ? ? ??具體參數1輸出項目? ? ? ? ??相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算

2023-07-14 0

應力雙折射儀超大幅面WPA

? ? ?汽車(chē)車(chē)窗玻璃幅面很大，一般桌面式測量雙折射/殘余應力測量?jì)x無(wú)法測量，掃描測量由非常慢，無(wú)法滿(mǎn)足實(shí)際使用，因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA雙折射測量?jì)x，會(huì )根據客戶(hù)樣品定制大型圓偏振光光源系統，實(shí)現大幅面樣品的高速測量。設備在日本的汽車(chē)廠(chǎng)商得到廣泛應用。主要特點(diǎn)：? 解決汽車(chē)車(chē)窗玻璃等大幅面產(chǎn)品的雙折射/殘余應力測量。 測量速度快，可滿(mǎn)足玻璃工廠(chǎng)研發(fā)或質(zhì)

2023-07-14 0

PHL應力雙折射/相位差測量?jì)x

主要特點(diǎn)： 操作簡(jiǎn)單，測量速度可以快到3秒。 視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。 更直觀(guān)的一體讀取數據，無(wú)遺漏數據點(diǎn)。 具有多種分析功能和測量結果的比較。 維護簡(jiǎn)單，不含旋轉光學(xué)濾片的機構。 高達2056x2464像素的偏振相機。 應用領(lǐng)域： 光學(xué)鏡片 智能手機玻璃基板 A4紙尺寸的樣品 技術(shù)參數：? ? ? ? ? ? ? 項次 ? ? ? ?

2023-07-14 0

內應力/雙折射/相位差測量?jì)x

?? ?? 硫系，紅外樹(shù)脂等材料對可見(jiàn)光不透過(guò)，這樣的樣品殘余應力評估很難實(shí)現，為此Photonic Lattece 專(zhuān)門(mén)研制了WPA-NIR雙折射測量?jì)x，采用850nm或940nm波長(cháng)，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布，安裝既有的操作簡(jiǎn)單和實(shí)用的軟件WPA-View，可以自由分析任意線(xiàn)上的相位差分布圖形、任意區域內的平均值等的定量數據可搭配流水線(xiàn)對應的『外部控制選配』，也可應用

2023-07-14 0

晶圓缺陷檢測系統

? ? ? ? 可檢測 表面、內部、背面的缺陷 ????外延缺陷 ??? 胡蘿卜型缺陷 ????彗星缺陷 ????三角缺陷 ????邊緣缺陷 ? ????襯底缺陷 ????微管缺陷 ????層錯缺陷 ????六方空洞缺陷 ?

2022-03-04 面議/臺

非接觸式三維測量?jì)x

非接觸式三維測量?jì)x 采用激光非接觸式測量，適用于多種材料和復雜結構的樣品的三維測量設備。 ?? ? ? ? ? 應用實(shí)例： ?

2022-03-04 面議/臺

白光共聚焦顯微鏡

日本Lasertec以雙共聚焦光學(xué)系為基礎，搭載微分干涉觀(guān)察，垂直白光干涉測定，相差干涉測定，反射分光膜厚測定等功能，通常多臺設備才能完成的測試，僅需一臺設備即可實(shí)現。 ?? 關(guān)鍵詞：激光共聚焦顯微鏡,白光共聚焦顯微鏡,lasertec共聚焦顯微鏡 OPTELICS HYBRID 簡(jiǎn)介： 日本Lasertec公司推出了Optelics混合共焦顯微鏡,將激光和白光源組

2022-03-04 面議/臺

微區取樣儀

Micro Support 微區取樣儀 ?????? 微區取樣儀是微小物體分析強有力的輔助手段，在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中，經(jīng)常會(huì )遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問(wèn)題，有時(shí)候待測位置難以采集信號必須將待測物取出，還有時(shí)會(huì )因為待測物尺寸小于儀器檢測極限帶來(lái)許多難題，而微區取樣儀可以幫助用戶(hù)輕松解決。 ?? 關(guān)鍵詞：微區取樣儀、Micro Supp

2022-03-04 面議/臺

玻璃內應力雙折射測量?jì)xPA-3

PA-300-MT ? ??? ?PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量?jì)x，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量?jì)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，獨有的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內，特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。 ??

2022-03-03 面議/臺