塞貝克熱電效應測試儀

北京飛凱曼公司提供塞貝克熱電效應測試儀系統。塞貝克效應是一種物理現象，即兩種不同的導體材料或者半導體材料（如右圖所示）之間的溫度差異在接觸時(shí)會(huì )產(chǎn)生電勢差。當熱量施加在兩種導體或者半導體中的一個(gè)時(shí)，熱電子流會(huì )從熱端流向冷端。當這對材料通過(guò)電子回路連接時(shí)，直流電流（DC）就會(huì )從回路中流過(guò)。塞貝克效應產(chǎn)生的電壓很小，通常在連接點(diǎn)每開(kāi)氏溫度只有幾個(gè)微伏或幾個(gè)毫伏。如果溫度差足夠大，一些塞貝克效應器件可以產(chǎn)

2014-03-12 面議/臺

朗繆爾探針

北京飛凱曼公司提供朗繆爾探針測試系統。朗繆爾探針是等離子體性質(zhì)的診斷方式之一，也是較基本的診斷方式。向等離子體中插入一根極小的電極，然后加上一定的電壓，測定通過(guò)的電流與所加電壓的關(guān)系，可以得到探針的電壓-電流特性曲線(xiàn)。再根據曲線(xiàn)上的特殊點(diǎn)就可以求得等離子體的密度、電子溫度、等離子體電位和懸浮電位。 本公司提供的朗繆爾探針，是根據我們科研工作者長(cháng)期的扎實(shí)的理論研究和實(shí)際工藝探索，研制的一套適用于等

2014-03-12 面議/臺

薄膜應力測試儀

北京飛凱曼科技公司提供薄膜應力測試儀。薄膜應力測試儀，又名薄膜殘余應力測試儀或薄膜應力儀，是專(zhuān)門(mén)用于測試和研究薄膜材料和薄膜制備工藝的必不可少的工具。 薄膜中應力的大小和分布對薄膜的結構和性質(zhì)有重要的影響, 可導致薄膜的光、電、磁、機械性能改變. 例如, 薄膜中的應力是導致膜開(kāi)裂或與基體剝離的主要因素, 薄膜中存在的殘余應力很多情況下影響MEMS 器件結構的特性, 甚至嚴重劣化器件的性能, 薄膜

2014-03-12 0

霍爾效應測試儀

北京飛凱曼公司提供霍爾效應測試儀。臺灣SWIN公司生產(chǎn)的霍爾效應測試儀?(Hall Effect Measurement System)是性能穩定、功能強大、性?xún)r(jià)比高的霍爾效應儀，在國內高校、研究所及半導體業(yè)界擁有廣泛的用戶(hù)和知名度。本儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要特性參數，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等，薄膜或體材料均可，其原理主要依據范德堡法則。? 除了用來(lái)判斷

2014-03-09 面議/臺